懸滴法是一經(jīng)典的測量方法，說它經(jīng)典因為它的測量原理其實已經(jīng)相當(dāng)古老，起源于19世紀(jì)初的Laplace和Young所建立的方程。但這一方程對于懸滴無解析解，所以在早期，測量方法建立在對一些實際、已知體系進行測量的經(jīng)驗基礎(chǔ)上。直到19世紀(jì)末，Bashforth and Adams 在Laplace-Young方程的基礎(chǔ)上，推導(dǎo)出了準(zhǔn)確描寫中心軸對稱懸滴的方程，但這一方程仍然無解析解。后來（20世紀(jì)50-60年代）人們才在計算機的幫助下，通過對Bashforth-Adams方程的數(shù)值求解，從理論上得到了可以用于實際測量的校正因子表格，在這一表格的幫助下，可以通過測量一個懸滴幾個關(guān)鍵位置/截面（5個或以上位置）的尺寸，來計算出表面張力值。這就是所謂的選擇平面法或選面法（Selected-Plane Method）。這一方法迄今仍被不少儀器廠家采用（即使他們也采用數(shù)碼相機進行攝像和運用計算機來進行計算），其測量結(jié)果的精度嚴重地依懶于這幾個關(guān)鍵尺寸/位置的測量準(zhǔn)確性和懸滴的形狀和完美性，對許多不符合其求的懸滴形狀也不能夠進行測量（因為缺少對應(yīng)的關(guān)鍵尺寸/位置）。采用這一測量方法的準(zhǔn)確性一般在百分之幾以上，有時可以高達10-20%以上。另外操作人員的人為影響也可以非常顯著。

　　20世紀(jì)80年代以來，隨著計算機技術(shù)和數(shù)字圖像技術(shù)的發(fā)展，才真正迎來了懸滴測量法的革新時代。在二者的結(jié)合下，可以獲得整個懸滴輪廓的坐標(biāo)（坐標(biāo)點數(shù)少則幾百多則幾千），可以對Laplace-Young方程或者Bashforth-Adams方程直接進行數(shù)值求解，然后通過將獲得的整個懸滴輪廓的坐標(biāo)與準(zhǔn)確描寫懸滴輪廓的方程的直接比較或擬合，得到相對應(yīng)體系的物理參數(shù)值，包括表面張力值。這一方法稱為全輪廓擬合法（whole drop profile analysis）。

　　全輪廓擬合法適合所有形狀的懸滴，也適合計算部分輪廓的懸滴。

　　但即使對于市場上均采用全輪廓計算/擬合法的不同廠家，由于方法具體細節(jié)上的差異（比如如何獲得輪廓點的坐標(biāo)以及其精度）、所考慮的擬合參數(shù)數(shù)量的不同、所采用的擬合目標(biāo)函數(shù)（merit function）和擬合方法的不同等，相互之間也存在差異，這反映在方法能夠達到的精度、穩(wěn)定性（robustness）以及速度等方面。
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